用您的電源縮短測試時(shí)間的10 項提示

提示1停止對DUT 的等待
　　大多數測試程序都會(huì )在等待上花去大部份時(shí)間。除非您正在傳送大量數據，否則計算機、I/O和儀器通常都不是問(wèn)題所在。在升級您的計算機硬件或采用更快儀器之前，應仔細檢查程序的執行過(guò)程。

第一層次的改進(jìn)
　　從查看測試是否把DUT 置于下次測試所要求的狀態(tài)開(kāi)始。例如若DUT在測試開(kāi)始時(shí)需關(guān)機。那么在上次測試完成后應將其關(guān)機。如果特定測試需要DUT預熱，那么應把它放在測試過(guò)程的后面，由系統定時(shí)器保證DUT有足夠長(cháng)的開(kāi)機時(shí)間。這些辦法能提供很大的速度改進(jìn)，雖然并非總能實(shí)行（一個(gè)精心制定的測試計劃通常已考慮了這一層次的優(yōu)化）。

第二層次的改進(jìn)
　　優(yōu)化的下一層次要依據實(shí)際測試要求。典型步驟為：
　　·把負載加至DUT，設置其編程狀態(tài)，等待DUT 輸出穩定
　　·用繼電器連接測量設備，等待繼電器吸合
　　·設置測量?jì)x器，等待設置完成
　　·初始化測量，等待測量完成
　　·斷開(kāi)繼電器
　　·切斷電源
　　·等待DUT 輸出穩定
　　通常每一步都包括等待動(dòng)作的完成。此外，大多數DUT在加電或負載條件改變后，都需要一段穩定時(shí)間。通過(guò)把編程和等待階段分開(kāi)，您可在等待的同時(shí)編程一臺儀器，以重新安排測試。
　　·把負載加至DUT
　　·用繼電器連接測量設
　　·設置測量?jì)x器
　　·等待所有上述動(dòng)作完
　�。� 繼電器吸合
　�。� 測量?jì)x器穩定
　�。� DUT 輸出穩定
　　·初始化測量
　　·等待測量完成
　　·斷開(kāi)繼電器
　　·切斷電源
　　·等待DUT 輸出穩定

　　重疊等待周期，以把總延遲減到最小。當DUT趨于穩定時(shí)，測試程序正忙于編程繼電器和設置測量?jì)x器。
　　為實(shí)現重疊的等待，使用公共或全局定時(shí)器。每一個(gè)設置儀器或DUT 的例行程序都要告訴全局定時(shí)器每個(gè)動(dòng)作的持續時(shí)間；從而確定哪一動(dòng)作需要最長(cháng)的等待。然后當測量或其它測試要求完成前述命令時(shí)，調用一個(gè)簡(jiǎn)單的等待功能，一直等待到全局定時(shí)器期滿(mǎn)后再繼續。
　　·把負載加至DUT
　　·用繼電器連接測量設備
　　·設置測量?jì)x器
　　·等待全局定時(shí)器
　　·初始化測量
　　·等待全局定時(shí)器
　　·斷開(kāi)繼電器
　　·切斷電源
　　采用這種方法，測試就不需要等待超過(guò)儀器設置所絕對必須的時(shí)間，也使編程更為簡(jiǎn)單。

提示2用多臺電源和重疊的GPIB 操作縮短測試時(shí)間
　　如果測量速度是基本要求，則可考慮用多臺單路輸出電源代替一臺多路輸出電源。由于采用多臺電源，您就可重疊GPIB 操作，避免多路輸出電源中相繼命令處理所造成的延遲。在一臺多路輸出電源中，要依次處理發(fā)送至各輸出的命令，一次一路輸出。而當使用多臺電源，在一臺電源處理命令的同時(shí)另一臺電源可接受命令，依此類(lèi)推。
　　在電源進(jìn)行查詢(xún)時(shí)，這項技術(shù)更顯其優(yōu)點(diǎn)。對于多路輸出電源，在查詢(xún)下一輸出前，您必須發(fā)送測量命令，并取回該輸出的響應。由于測量必須一項一項地進(jìn)行，完成這樣的查詢(xún)就需要花兩個(gè)測量周期。
　　OUTPUT Dev1;"VOUT1?"
　　ENTER Dev1;"Volt1
　　OUTPUT Dev1;"VOUT2?"
　　ENTER Dev1;"Volt2
　　而對于多臺儀器，您可首先發(fā)送命令至所有電源，以開(kāi)始測量，然后取回響應。由于測量是重疊的，這一查詢(xún)就只需要一個(gè)測量周期。
　　OUTPUT Dev1;"MEAS:VOLT?"
　　OUTPUT Dev2;"MEAS:VOLT?"
　　ENTER Dev1;"Volt1
　　ENTER Dev2;"Volt2
　　當您使用VISA 軟件驅動(dòng)程序時(shí)，viQueryf()是便于查詢(xún)的功能。但這一功能不允許重疊操作。為進(jìn)行重疊查詢(xún)，用viPrintf　　() and viScanf()把查詢(xún)分成若干步。例如：
　　viPrintf(viDev1, "MEAS:VOLT?\n");
　　viPrintf(viDev2, "MEAS:VOLT?\n");
　　viScanf(viDev1, "%lf",&Volt1);
　　viScanf(viDev2, "%lf",&Volt2);
　　雖然單獨的設置或查詢(xún)操作所節省的時(shí)間可能相當有限，但對于復雜的重復測試，累積的時(shí)間節省就可能對總系統吞吐率有相當大的影響。

提示3使用電源和電子負載的內置測量能力
　　利用許多電源和電子負載的內置測量功能，您就能減少自動(dòng)測試的時(shí)間和復雜程度。對于電源，您可用這些能力測量電源的輸出電壓和電流。對于負載，您可測量負載的輸入電壓和電流。
　　一個(gè)好例子是測試具有四路輸出的直流—直流轉換器，您需要測量至轉換器的輸入電壓及所有四路輸出，以全面測試該裝置。如果您用一臺數字多用表測量電壓，就需要用多路轉換器依次執行各測量（圖1）。除了測試裝置的復雜性外，您的測試程序也需要等待多路轉換器對每一測量的轉換和穩定。
　　您也能用直流電源和電子負載測試轉換器（圖2）。它們已經(jīng)接到DUT，不會(huì )再有開(kāi)關(guān)延遲，因此設置和測試都將快得多。應注意這里遠地感應的使用。雖然這種方法對此沒(méi)有要求，但它能提供在DUT端，而不是負載或直流電源處的測量和調整，因此是一個(gè)很好的主意。
　　由于不需要開(kāi)關(guān)，因此您還能得到更快測試，更高可靠性和更簡(jiǎn)單配置的好處，此外還有因不需要數字多用表和多路轉換器所節省的時(shí)間和機架空間。如果您要測量電流，也能采用同樣方法，并且還能省掉電流分路器。

提示4用單機電源產(chǎn)品縮短ATE 系統的集成、編程和維護時(shí)間
　　今天的許多系統電源、交流源和電子負載都在一個(gè)機箱中配備了內置的電壓和電流編程能力、狀態(tài)讀回和服務(wù)請求中斷（圖1）。您不必從單獨部件裝配用于A(yíng)TE系統的電源子系統，并擔憂(yōu)其性能。單機電源規范告訴您可預期的精確指標。
優(yōu)點(diǎn)
單機解決方案提供眾多的功能特性，并降低了復雜性和提高了置信度：
　　·完全保證的性能。覆蓋整個(gè)儀器的全套技術(shù)指標，從GPIB輸入至輸出。
　　·降低系統成本。單機中有所需的一切，沒(méi)有要另行購買(mǎi)，再塞入擁擠箱體的長(cháng)長(cháng)附件清單。這也同時(shí)去掉了儀器間的外部線(xiàn)纜和互連，從而極大提高了可靠性和簡(jiǎn)化了集成。
　　·易于使用。前面板控制加快了系統開(kāi)發(fā)。輸出可以用V、A編程，也可使用自行規定的類(lèi)似編程命令。它擴展的系統特性，如狀態(tài)讀回和電校準也可加速開(kāi)發(fā)和減少維護。
　　·應用保護。在危險條件產(chǎn)生時(shí)，過(guò)流和過(guò)壓保護能斷開(kāi)輸出并發(fā)送中斷請求。此外，許多較新儀器上配有外部控制端口，可通過(guò)響應外部事件容易地斷開(kāi)應急系統。
先進(jìn)特性
一些先進(jìn)的電源產(chǎn)品還包括內置的測量功能：
　　輔助數字電壓表功能。今天的一些電源還融入測量能力，可進(jìn)一步降低或消除對其它設備的需要。
　　電源分析儀測量功能。您能用內置的電源分析儀監視交流源所產(chǎn)生電源騷擾對被測裝置的影響。某些交流源甚至有第二個(gè)電源分析儀輸入，您可把它接到電源保護設備的輸出。

提示6數字信號處理提升儀器的性能和價(jià)值
　　低價(jià)的浮點(diǎn)數字信號處理（DSP）有廣泛的適應性，能顯著(zhù)提升許多交流和直流電源的性能、功能和價(jià)值。這些增強的能力又繼而提高測試吞吐率和縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間。
克服模擬技術(shù)的限制
　　DSP在克服傳統模擬設計的限制方面邁出了一大步，使總體性能只受儀器所使用部件的限制。即使是最好的設計，也會(huì )受半導體工藝限制、噪聲、溫漂、有用信號被有害信號污染，以及其它因素的影響。排除這些有害影響非常困難，在許多情況下甚至是不可能的。
　　現代儀器設計通過(guò)在處理鏈盡可能早的地方數字化信號，以克服這些障礙，在此之后的所有處理均在數字域進(jìn)行，這樣就能較容易地控制誤差源。
創(chuàng )造新的測試和測量可能性
　　由于在數字域中能得到對基本參數的改進(jìn)測量精度，進(jìn)一步的處理為更多利用這些數據開(kāi)啟了無(wú)限的可能。例如基于DSP 的電源通常不僅能數字化輸出電壓和電流，而且能用與數字示波器相同的方式采集時(shí)域波形。測量范圍從瞬時(shí)功率到FFT和自定義濾波，都可通過(guò)算法，而不是如模擬設計那樣用實(shí)際電路實(shí)現。
　　智能儀器也能通過(guò)從宿主計算機處接管處理任務(wù)而加速自動(dòng)測試。
用更好的信息實(shí)現更好的設計
　　有關(guān)測試裝置的功耗信息能幫助選擇熔絲，作出負載預測和其它重要的設計決定。頻譜信息能使您深入了解交流電源線(xiàn)的諧波輻射行為，確定輻射等指標是否符合管制標準所需要進(jìn)行的測試。對于低重復率脈沖負載裝置，如蜂窩電話(huà)的功耗概況可提供有價(jià)值的電池壽命信息。通過(guò)把原始數據加工成有用信息，DSP 將縮短設計和生產(chǎn)測試的周期。

提示6使用更精確的電源
　　當考慮精密性和分辨率時(shí)，改進(jìn)電源精度（包括輸出電平編程精度和讀回精度）的好處是顯然的。但電源精度的改進(jìn)還會(huì )帶來(lái)明顯的速度改進(jìn)。
　　如果您的電源不夠精確或穩定，就可能需要用數字多用表連續驗證其輸出水平，也可能要用程序循環(huán)保持電壓處于，或接近于某一預期值。溫漂，負荷的突然變化和不足的分辨率僅僅是可能引起麻煩的一些因素。采用更精確的電源，您就能避免所提及的復雜性，花費和延誤。
　　如果您必須用不太精確的電源，以及分路器、多路轉換器、數字多用表構成系統，情況就更富挑戰性。此時(shí)應考慮采用提示4 中的單機電源系統，因為它有統一和全面的性能指標。系統中較少的分立部件可提高可靠性，減少誤差和不穩定性的出現機會(huì )。

提示7用二進(jìn)制模式傳送大量數據
　　在傳送大量數據，例如從儀器或向儀器傳送測量波形時(shí)，應了解儀器是否支持二進(jìn)制傳輸。如果它有波形捕獲能力，它就可能除ASCII 外還能提供二進(jìn)制模式。如果您只傳輸數據，就不需要ASCII 的字符能力。二進(jìn)制傳輸只需較少的字節，可把傳輸時(shí)間減到一半或一半以上。
　　二進(jìn)制模式的缺點(diǎn)是需要附加一些數據管理（如字節次序），以保證成功的傳輸（也保證了儀器在您預期為ASCII時(shí)卻不經(jīng)意地設置為二進(jìn)制模式）。
　　對于二進(jìn)制傳輸的好消息是VISA I/O庫能為您管理許多服務(wù)。下面的例子是使用二進(jìn)制模式的交流或直流源。程序用C語(yǔ)言編寫(xiě)，但其概念也適合任何語(yǔ)言（從Visual Basic，Agilent VEE，LabView 和其它程序環(huán)境調用VISA庫）。

提示8利用先進(jìn)狀態(tài)報告特性的好處
　　我們給予了今天系統電源和負載眾多能力，更需要知道儀器內發(fā)生了些什么，以及為響應變化的輸入信號和其它因素，應采取哪些動(dòng)作。
　　例如，普通的監視任務(wù)是盯著(zhù)電源何時(shí)進(jìn)入恒流（CC）模式，此時(shí)電源將按負載條件變化調整其電壓，以保持規定的電流水平。這可能發(fā)生在邏輯器件故障時(shí)，將造成來(lái)自被測裝置的極高電流。不能響應這種情況有可能損壞負載，甚至造成不安全的狀況。
　　您可通過(guò)GPIB保持讀取電源狀態(tài)，了解CC 比特是否改變。但這對計算機是既慢又費時(shí)。
　　較快的方法是設置電源，當進(jìn)入CC 模式時(shí)串行查詢(xún)寄存器中的比特被置位。執行串行查詢(xún)是快得多的GPIB操作，這一過(guò)程所花的時(shí)間會(huì )少于每次檢查。此外，如果您的程序環(huán)境支持通過(guò)GPIB的服務(wù)請求（SRQ），當它進(jìn)入CC模式時(shí)，您可去除全部查詢(xún)過(guò)程，把源設置為產(chǎn)生SRQ。
　　不同儀器有不同的狀態(tài)寄存器設置，現已能提供強大的監視和響應能力。例如，許多 Agilent電源的寄存器可示出工作模式和標準事件（正常工作條件，如CV和CC）及有疑問(wèn)事件的狀態(tài)。這里的有疑問(wèn)事件包括過(guò)壓、過(guò)流和過(guò)熱條件，以及跳入未規定的狀態(tài)（電源既非恒流，也非恒壓模式）。所有這些條件都置位狀態(tài)寄存器中的比特，并可用于產(chǎn)生 SRQ。
　　
提示9使用列表模式和背板觸發(fā)
　　您能用帶有稱(chēng)為列表模式特性的電源保存儀器的所有設置狀態(tài)，并可使用一條命令調用，而不需要發(fā)送一長(cháng)串的每一配置步驟。測試步驟越復雜，列表模式就能節省越多的時(shí)間。微處理器和其它應用程序也可用列表模式同時(shí)管理多種電壓電平。
　　在模塊化電源系統中，可聯(lián)用背板觸發(fā)和列表模式，以得到更多的能力和更高的靈活性。例如，您可通過(guò)預配置各種模塊，輸出特定的電壓電平，然后用一條觸發(fā)命令讓它們在不同時(shí)間開(kāi)啟。圖1 示出這樣一種裝置的框圖，圖2 示出得到的輸出曲線(xiàn)。
　　列表模式和觸發(fā)還能提供另一種形式的幫助，即減少測試系統中計算機的控制雜務(wù)，用一條命令發(fā)布編程序列，然后使用通過(guò)背板的模塊至模塊觸發(fā)在后一模塊上開(kāi)始列表模式設置。

提示10用帶下編程的電源實(shí)現更快的電平變化
　　使用帶有下編程特性的電源能顯著(zhù)縮短測試時(shí)間，特別是當您需要有多個(gè)電壓電平設置的情況。如果沒(méi)有下編程器，當您減小輸出電壓電平時(shí)，電源輸出濾波器中電容器（或任何負載容量）的放電需要幾秒，甚至幾分鐘的時(shí)間（負載越大，時(shí)間越長(cháng)）。
　　在許多情況下，下編程使用有源電路，在幾毫秒內把輸出強制降到新的電平。當您設置的電壓電平（無(wú)論是手動(dòng)還是編程）低于當前輸出電平時(shí)，電路會(huì )自動(dòng)突跳。許多電源中的下編程電平是固定的，但也有一些電源提供可編程的下編程電平。
　　對有嚴格時(shí)間要求的測試，要特別注意下編程的延遲。由于上編程通常比下編程快得多，因此對于包括多項測試的測試序列，應讓下一項測試的電壓電平等于或高于前一項測試。
　　還應注意下編程也可能是把電池放電的便利方法。如果您已把電池充電，然后降低輸出電壓（或在某些電源中用“OUTPUT OFF”命令切斷輸出），下編程就被激活，并強制電源成為電池負載，而吸收電池的電流。這是一項很好的特性，但應注意其吸收能力是足夠的，可能您不能用它充分放電。為保持電池電荷，要在降低電源的輸出電平前先斷開(kāi)電池連接。
　　警告：當給電池充電或放電時(shí)，不要讓電源斷電。否則電源的過(guò)壓保護電路有可能把電池短路，進(jìn)而損壞電源和造成電池過(guò)熱。