無(wú)損檢測的定義
無(wú)損檢測的定義
NDT 是無(wú)損檢測的英文（Non-destructive testing）縮寫(xiě)。
NDT 是指對材料或工件實(shí)施一種不損害或不影響其未來(lái)使用性能或用途的檢測手段。
通過(guò)使用 NDT，能發(fā)現材料或工件內部和表面所存在的缺欠，能測量工件的幾何特征和尺寸，能測定材料或工件的內部組成、結構、物理性能和狀態(tài)等。
NDT 能應用于產(chǎn)品設計、材料選擇、加工制造、成品檢驗、在役檢查（維修保養）等多方面，在質(zhì)量控制與降低成本之間能起最優(yōu)化作用。NDT 還有助于保證產(chǎn)品的安全運行和（或）有效使用。
NDT 包含了許多種已可有效應用的方法，最常用的 NDT 方法是：射線(xiàn)照相檢測、超聲檢測、渦流檢測、磁粉檢測、滲透檢測、目視檢測、泄漏檢測、聲發(fā)射檢測、射線(xiàn)透視檢測等。
由于各種 NDT 方法，都各有其適用范圍和局限性，因此新的 NDT 方法一直在不斷地被開(kāi)發(fā)和應用。通常，只要符合 NDT 的基本定義，任何一種物理的、化學(xué)的或其他可能的技術(shù)手段，都可能被開(kāi)發(fā)成一種 NDT 方法。
在我國，無(wú)損檢測一詞最早被稱(chēng)之為探傷或無(wú)損探傷，其不同的方法也同樣被稱(chēng)之為探傷，如射線(xiàn)探傷、超聲波探傷、磁粉探傷、滲透探傷等等。這一稱(chēng)法或寫(xiě)法廣為流傳，并一直沿用至今，其使用率并不亞于無(wú)損檢測一詞。
在國外，無(wú)損檢測一詞相對應的英文詞，除了該詞的前半部分——即 non-destructive 的寫(xiě)法大多相同外，其后半部分的寫(xiě)法就各異了。如日本習慣寫(xiě)作 inspection，歐洲不少?lài)疫^(guò)去曾寫(xiě)作 flaw detection、現在則統一使用 testing，美國除了也使用 testing 外，似乎更喜歡寫(xiě)作 examination 和 evaluation。這些詞與前半部分結合后，形成的縮略語(yǔ)則分別是 NDI、NDT 和 NDE，翻譯成中文就出現了無(wú)損探傷、無(wú)損檢查（非破壞檢查）、無(wú)損檢驗、無(wú)損檢測、無(wú)損評價(jià)等不同術(shù)語(yǔ)形式和寫(xiě)法。實(shí)際上，這些不同的英文及其相應的中文術(shù)語(yǔ)，它們具有的意義相同，都是同義詞。為此，國際標準化組織無(wú)損檢測技術(shù)委員會(huì )（ISO/TC 135）制定并發(fā)布了一項新的國際標準（ISO/TS 18173:2005），旨在將這些不同形式和寫(xiě)法的術(shù)語(yǔ)統一起來(lái)，明確它們是有一個(gè)相同定義的術(shù)語(yǔ)、都是同義詞，即都等同于無(wú)損檢測（non-destryctive testing）。而不同的寫(xiě)法，僅僅是由于語(yǔ)言習慣不同而已。
因此，作為標準化的術(shù)語(yǔ)，推薦使用“無(wú)損檢測”一詞，對應的英文詞則推薦使用“Non-destructive testing”。各種無(wú)損檢測方法的名稱(chēng)，也同樣推薦使用“檢測”一詞，如射線(xiàn)照相檢測、超聲檢測、磁粉檢測、滲透檢測、渦流檢測等等。在翻譯時(shí)，與 Non-destructive 相連用的如 inspection、examination、evaluation 等英文詞，都推薦譯成“無(wú)損檢測”一詞，盡量避免寫(xiě)作“無(wú)損探傷”、“無(wú)損檢查”、“無(wú)損檢驗”、“無(wú)損評價(jià)”等。這一譯法也同樣適用于各種無(wú)損檢測方法名稱(chēng)的譯法。
注：inspection、examination、evaluation 等詞，僅在翻譯無(wú)損檢測及其方法的名稱(chēng)時(shí)才推薦譯成“檢測”一詞，其他場(chǎng)合宜依據原文內容和中文習慣來(lái)翻譯。
常用 NDT 方法的英文及其縮寫(xiě)：
超聲檢測 ultrasonic testing — UT
磁粉檢測 magnetic particle testing — MT
計算機層析成像檢測 computed tomographic testing — CT
目視檢測 visual testing — VT
射線(xiàn)照相檢測 radiographic testing — RT
滲透檢測 penetrant testing — PT
聲發(fā)射檢測 acoustic emission testing — AT、AE
渦流檢測 eddy current testing — ET
泄漏檢測 leak testing — LT
發(fā)布人：駿凱電子2008/5/4 9:47:002514
發(fā)布時(shí)間：2008/5/4 9:47:00
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